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Webinar – Abgriff von Signalen in Designs für digitale Hochgeschwindigkeits-Applikationen
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<p>Der Tastkopf ist ein oft unterschätzter Teil Ihres Messsystems. Gleichzeitig ist der richtige Tastkopf – und mit zunehmendem Frequenzbereich – entscheidend für genaue und wiederholbare Messungen.</p>
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<p>Dieses Webinar befasst sich mit den wichtigsten Aspekten bei der Messung von digitalen Hochgeschwindigkeitssignalen wie DDR, PCIe, MIPI, USB, HDMI usw. </p>
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<p>Dabei lernen Sie mehr zu folgenden Themenschwerpunkten: Wo soll gemessen werden, Tastkopf-Grundlagen, Wahl der richtigen Anschlussleitung/-methode, Überlegungen zur Belastung des Tastkopfs, Korrekturen der Tastkopfantwort und Messung unter extremen Umweltbedingungen. </p>
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<h2>VORTRAGENDE:</h2>
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<p> <img src="https://images.connection.keysight.com/EloquaImages/clients/KeysightTechnologiesInc/%7B86400e02-2258-4727-94dd-44b9ed44159f%7D_Patrick_Geisler.png" alt="Patrick Geisler" width="192" height="192"> <br /><strong>Patrick Geisler</strong> <br /><em>Vertriebsingenieur </em><br />Keysight Technologies</p>
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<p> <img src="https://images.connection.keysight.com/EloquaImages/clients/KeysightTechnologiesInc/%7B007fe8c2-3c7b-4444-8eba-914b555267f7%7D_200x200_round_Thomas_Giehm_transp.png" alt="Thomas Giehm" width="200" height="200"> <br /><strong>Thomas Giehm</strong> <br /><em>Solution Engineer </em><br />Keysight Technologies </p>
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Additional Details
Link zur Veranstaltungsseite - https://connectlp.keysight.com/Germany_Probing_Fundamentals_Webinar?utm_source=EML_KP&utm_medium=EML&utm_campaign=Xtest
