Webinar – Abgriff von Signalen in Designs für digitale Hochgeschwindigkeits-Applikationen

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Webinar – Abgriff von Signalen in Designs für digitale Hochgeschwindigkeits-Applikationen

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Der Tastkopf ist ein oft unterschätzter Teil Ihres Messsystems. Gleichzeitig ist der richtige Tastkopf – und mit zunehmendem Frequenzbereich – entscheidend für genaue und wiederholbare Messungen.

Dieses Webinar befasst sich mit den wichtigsten Aspekten bei der Messung von digitalen Hochgeschwindigkeitssignalen wie DDR, PCIe, MIPI, USB, HDMI usw. 

Dabei lernen Sie mehr zu folgenden Themenschwerpunkten: Wo soll gemessen werden, Tastkopf-Grundlagen, Wahl der richtigen Anschlussleitung/-methode, Überlegungen zur Belastung des Tastkopfs, Korrekturen der Tastkopfantwort und Messung unter extremen Umweltbedingungen. 

VORTRAGENDE:

Patrick Geisler
Patrick Geisler
Vertriebsingenieur
Keysight Technologies

Thomas Giehm
Thomas Giehm
Solution Engineer
Keysight Technologies

Additional Details

Link zur Veranstaltungsseite - https://connectlp.keysight.com/Germany_Probing_Fundamentals_Webinar?utm_source=EML_KP&utm_medium=EML&utm_campaign=Xtest

 

Datum und Uhrzeit

13. Oktober 2021 @ 11:00 bis
13. Oktober 2021 @ 12:00
 

Veranstaltungskategorie

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